Wellenlängenbereich:850 | 1700 Nanometer
Anwendungs-Faser-Art:Anwendungs-Faser-Art
Absolute Ungewissheit (Genauigkeit) an der Referenzbedingung:± 4% (1200 Nanometer | 1610 Nanometer)
Anzahl der Kanäle:2
Energieprobenahmezeitraum (Rate):100 wir (10KHz)
Kalibrierungs-Wellenlänge:850/980/1310/1490/1550/1610 Nanometer
Sensor-Element:InGaAs
Modell:U8820+2*U88201
Anwendungs-Faser-Art:Standard-Inspektion und Millimeter um Speicherkapazität bis 62,5
Wellenlängenbereich:850 | 1700 Nanometer
Leistungsbereich:+5 | -65dBm
Anwendungs-Faser-Art:Standard-Inspektion und Millimeter um Speicherkapazität bis 62,5
Sensor-Element:InGaAs
Kalibrierungs-Wellenlänge:850 / ununterbrochene Kalibrierung 980/1310/1510~1640nm
Absolute Ungewissheit (Genauigkeit) an der Referenzbedingung:± 4% (1200 Nanometer | 1610 Nanometer)
Leistungsbereich:+10 | -65dBm
Kalibrierungs-Wellenlänge:850/980/1310/1490/1550/1610 Nanometer
Anwendungs-Faser-Art:Standard-Inspektion und Millimeter um Speicherkapazität bis 62,5
Kalibrierungs-Wellenlänge:850/980/1310/1490/1550/1610 Nanometer
Probenahmezeitraum:10 us (100KHz)
Leistungsbereich:+5 | -75dBm
Sensor-Element:InGaAs
Kalibrierungs-Wellenlänge:850/980/1310/1490/1550/1610 nm/1510~1625 nm Kontinuierliche Kalibrierung
Anwendungs-Faser-Art:Standard-Inspektion und Millimeter um Speicherkapazität bis 62,5
Wellenlängenbereich:850 | 1700 Nanometer
Anwendungs-Faser-Art:Standard-Inspektion und Millimeter um Speicherkapazität bis 62,5
Linearitäten (Energie):≤ ± 0,06 DB (1200 Nanometer | 1610 Nanometer, 0~ -50dBm)
Wellenlängenbereich:850 | 1700 Nanometer
Kommunikationsschnittstelle:RS232, USB, Steuerung durch PC
Rücklaufverlust:> DB 40
Sensor-Element:InGaAs
Leistungsbereich (dBm):+7 ~ -70 dBm
Linearitäten (Energie):Bei der Prüfung der Wirksamkeit der in Anhang I der Verordnung (EU) Nr. 528/2012 festgelegten Prüfme
Sensor-Element:InGaAs
Kalibrierungs-Wellenlänge:850/980/1310/1490/1550/1610 Nanometer
Anwendungs-Faser-Art:Standard-Inspektion und Millimeter um Speicherkapazität bis 62,5